Обучение


Подробнее

Оценка соответствия


Подробнее

Консалтинг


Подробнее

Международная деятельность


Подробнее

Конферец-менеджмент


Подробнее

Гостиница


Перейти на сайт

Филиалы


Подробнее

Культура безопасности


Подробнее

Устранение наложений в масс-спектрометрии с индуктивно-связанной плазмой

111.35 Устранение наложений в масс-спектрометрии с индуктивно-связанной плазмой

Краткое позиционирование метода ИСП-масс-спектрометрии для элементного и изотопного анализа. Спектральные наложения в ИСП-масс-спектрометрии. Теоретические и практические подходы к устранению наложений. Масс-спектрометрия высокого разреше-ния (SF, HR). Настраиваемые параметры HR-MS-систем. Коллизи-онные системы (дискриминация по кинетической энергии ионов, KED). Настраиваемые параметры KED-систем. Реакционные си-стемы (устранение наложений химическим устранением мешаю-щих ионов). Применения методов устранения масс-спектральных наложений в различных отраслях. Примеры практических приме-нений. Разработка масс-спектрометрических методик с примене-нием устранения наложений. Требования к приборам. Требования к лабораториям. Необходимые газы и газовая аппаратура, другие расходные материалы. Необходимые стандартные образцы. Алго-ритмы разработки методик. Практическое сравнение инструмен-тальных и программных подходов к устранению масс-спектральных наложений для элементного и изотопного анализа. Обзор литературы по тематике.

Целевая аудитория: Специалисты центральных заводских лабораторий, ана-литических лабораторий, научно-исследовательских лабораторий, служб контроля качества продукции, контроля окружающей среды, цеха химводоочистки АЭС.

Продолжительность: 27ч

Сроки обучения: 18.11-21.11

Место проведения: Обнинск

Стоимость: 30 000 руб.

Заполнить заявку